10.3969/j.issn.1003-353X.1999.01.008
GaAs MESFET热特性电学法测量与分析
采用快速脉冲技术,研制了GaAs MESFET热特性测试仪,并测量、分析了GaAs MESFET冷响应曲线、温升、稳态热阻、瞬态热阻及热响应曲线.采用该方法,可在器件正常工作条件下,快速、非破坏性地测量分析器件的芯片、粘接及管壳各部分的热阻.
热阻、电学法、热响应曲线
TN3(半导体技术)
2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共4页
32-35
10.3969/j.issn.1003-353X.1999.01.008
热阻、电学法、热响应曲线
TN3(半导体技术)
2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）
共4页
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号：2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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