基于进化卷积神经网络的外壳屏蔽效能预测

摘要：

随着设备功率密度和可靠性要求的不断提升,设备电气外壳应设计孔缝以解决散热和电磁屏蔽问题.为了优化孔缝结构和位置,需在设计过程中计算和预测电气外壳屏蔽效能.针对现有屏蔽效能分析方法误差较大等问题,先建立了基于电磁拓扑理论BLT方程的带孔外壳屏蔽效能等效模型,并提出了基于进化卷积神经网络的屏蔽效能参数提取方法,再以外壳屏蔽效能部分频点结果作为模型输入,提取屏蔽效能模型参数,最后根据模型计算其它频点的外壳屏蔽效能.对比分析结果表明,文中方法能够实现带孔缝外壳屏蔽效能预测,误差小于10 dB且不受外壳结构、孔缝位置和屏蔽材料参数影响.

关键词：电磁干扰、电磁屏蔽、BLT算法、ECNN算法

分类号：TM15;TN386.6;TN011

资助基金：国家自然科学基金52107005

在线出版日期：2023-02-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：41-45