本地化电磁危害

摘要：

从本地化有源电磁辐射和电路结构边缘对于外场扰动的角度出发,提出一种本地化电磁危害(Localized Electromagnetic Hazards—LEH)的新概念.基于相关模型的分析可知,LEH不仅存在,而且对于电子系统、微电子系统中的板级和超大规模集成电路(VLSI)等有显著的相关和非相关电路效应.

关键词：电磁兼容、本地化电磁危害、本地电磁噪声、本地电磁相关干扰、本地电磁破坏、波传播、本地定向辐射

分类号：TN7;TN4

在线出版日期：2017-11-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：15-18,76